一橋大学の「留学生向け」入学試験で不正の疑い…　容疑者を逮捕

ことし1月に行われた東京の一橋大学の外国人留学生向けの入学試験で、試験中に撮影されたとみられる問題が、外部に送られていたことが分かりました。
警視庁は、入試で不正が行われた可能性があるとして、中国人の容疑者を偽計業務妨害の疑いで逮捕して詳しいいきさつを調べています。